La mission INSIGHT et la contribution française
Agrégation concours externe
Section : Sciences Industrielles de l’Ingénieur
Épreuve d'admissibilité
Option sciences industrielles de l'ingénieur et ingénierie électrique
Support : La mission INSIGHT et la contribution française
Le programme spatial InSight1 de la NASA a abouti au lancement d’un Lander en mai 2018. Sa mission est d’étudier la structure interne de la planète Mars et d’essayer de répondre à la question de la compréhension des processus qui ont façonné les planètes rocheuses du système solaire, y compris la Terre, il y a plus de quatre milliards d'années.
A l’aide d’instruments géophysiques, InSight regarde très loin sous la surface de Mars, détecte les empreintes des processus de formation de la planète et mesure les « signes vitaux » de la planète :
- son « pouls » (sismologie),
- sa « température » (sonde de flux de chaleur),
- ses « réflexes ».
Objet de cette épreuve de conception
C’est dans ce contexte scientifique que le CNES a réalisé et réalise des tests de fonctionnement sur plusieurs modèles de l’instrument SEIS.
Un banc de tests EGSE6 (Electronic Ground Support Equipment) a été conçu pour éprouver l’instrument SEIS et la communication de ses mesures au Lander.
Les différents modules de cette partie de l’ESGE sont :
- Le module C&DH : interface de contrôle et de commandes avec le Lander
- Le module E-Box : boîte électronique de contrôle de l’instrument
- Le module Tether : câble de raccordement entre l’E-Box et le sismomètre
- Le module sismomètre : instrument de mesure.
Pour la suite, seul le module C&DH contenu dans le EGSE et les modules E-Box et sismomètre seront retenus pour le questionnement.
l'étude proposée s'intéresse à différentes parties de la réalisation du banc de tests ESGE et du sismomètre :
- Partie 1 : Choix d’architecture matérielle de l’E-Box ;
- Partie 2 : Conception de l’architecture logicielle du banc de tests ;
- Partie 3 : Communication entre l’E-Box et le sismomètre ;
- Partie 4 : Communication entre l’E-Box et le banc de tests ;
- Partie 5 : Gestion de la mémoire flash ;
- Partie 6 : Cohérence des données acquises.
